激光测量类产品
· 产品应用
· ATLAS系列激光位移传感器
· POLARIS系列激光位移传感器
· ANTARIS系列激光位移传感器
激光划线灯和激光定位投影仪
 

LAP激光应用(亚太区)有限公司上海代表处


工作状态全面检查
产品应用
 
概述
  位移测量
  厚度和外形测量
  多轨道厚度测量1
  多轨道厚度测量2

LAP不仅生产传感器和仪表,而且还设计一体化方案。您可以向LAP定购完整的测量系统 - 可以与非激光传感器组合在一起。常规的附件有温度传感器、超声波装置、光学表面检测系统,以及您所需要的附件。

我们无法处理的问题将交由"近在咫尺的"经验丰富的合作伙伴来解决。多年的接触与合作使LAP能够实现超越自我的项目。

  LAP
LAP激光应用(亚太区)有限公司上海代表处
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