回顾2013年NI热门产品技术资源:

1）每年我们都会发布和NI技术相关行业的重要趋势展望，从多个角度总结影响该行业发展的关键技术和方法。
嵌入式系统趋势展望2013
自动化测试趋势展望2013
数据采集技术趋势展望2013

2）NIDays 2013-全球图形化系统设计盛会集锦
以“图形有边、系统无界”为主题,涉及自动化测试与测量、LabVIEW编程技巧、行业应用、嵌入式控制与监测四大专题应用资源包。>>

3）LabVIEW 2013
全新LabVIEW 2013通过直观的图形化变成和无可比拟的硬件集成来加快系统的开发，帮助用户大胆创新。>>

4）cRIO 9068
cRIO-9068软件定制控制器集焕然一新的设计和LabVIEW可配置I/O(RIO)架构于一身。>>

更多资源
5）RF与微波参考海报
RF与微波测试标准参考海报包含了最新无线标准、转换表和公式。>>
6）用户解决方案2013优秀论文合订本
将从理论到应用，向您全面展示NI工业自动化平台的优势。>>

NI智能机器系列视频教程

立即下载以下智能机器网络教程系列视频:：
1、智能机器：采用嵌入式控制和监测工具，实现下一代制造设备
2、机器监测：通过性能测量，最大限度提高生产质量
3、机器人在智能机器系统中的作用
4、通过视觉和运动的紧密集成，提高准确度和灵活性
5、NI LabVIEW中实现3D视觉的工具和技术
6、3D视觉：第三维度的重要性
7、NI SoftMotion：完全可重配置运动控制系统的优势

更多资源
LabVIEW 2013评估版软件
全新LabVIEW 2013通过直观的图形化变成和无可比拟的硬件集成来加快系统的开发，帮助用户大胆创新。>>
NIDays 2013-全球图形化系统设计盛会集锦
以“图形有边、系统无界”为主题,涉及自动化测试与测量、LabVIEW编程技巧、行业应用、嵌入式控制与监测四大专题应用资源包。>>
《嵌入式控制与监测系统》开发指南
涉及LabVIEW软件和NI可重配置I/O（RIO）硬件，结合坚固可靠和易于使用的现成可用的系统。>>

NI测试测量系统搭建指南

>>立即下载13篇案例集锦

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从零开始，构建完整数据采集系统
本系列资源向大家详细介绍如何构建完整的数据采集系统。
完整DAQ系统开发指南
基于计算机的DAQ系统提供了一个比传统系统更强大，更灵活和更有效益的测试测量解决方案。
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数据采集技术趋势展望
介绍了当今工程师和科学家所面临的最为紧迫的趋势与机遇，最新策略和方法,分析并管理数据。
提高测量精度的七大技巧
涉及传感器技术，隔离屏蔽技术，硬件指标考量，后端信号处理等视频教程及课件。
NI数据采集编程指南
本指南分为上，中，下三部分。上篇涵盖数据采集（DAQ）基础知识简介、配置管理软件MAX以及DAQ助手Express VI；中篇包含模拟I/O与数字I/O、计数器应用以及定时与触发；下篇包括数据存储与文件I/O、同步、模块化仪器。

敬请访问ni.com/data-acquisition/zhs/,了解更多NI 数据采集信息。

《自动化测试趋势展望》全面介绍了影响测试和测量行业的关键技术和方法。凭着对技术发展方向趋势的灵敏度，以及测试和测量市场的独特见解，总结出未来五大趋势： 商业策略、系统架构、数据处理、软件和I/O。
>>立即下载自动化测试趋势展望2014
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回顾自动化测试趋势展望2013
让您对比今年最新的趋势展望与去年有哪些不同。
NI趋势展望2014
从射频/无线、大模拟数据、信息物理系统、计算模型、移动通信以及STEM的未来方面编写了《NI趋势展望2014》。
包络跟踪技术探讨及测试方案
怎样使用来自射频PA的输入信号实现包络跟踪ET，以确定关键的包络跟踪参数。基于这些参数，工程师们提出了基于PXI的测量系统并对其进行分析，该系统可满足包络跟踪测试的严格要求。

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构建自动化测试系统的最佳实践指南
详述了如何从头到尾地设计软件自定义的测试系统，并且将使用技巧和经验贯穿始终，甚至包括如何实现易于维护的线缆连接，是一份上佳的指导手册和实用指南。
提高测量精度的七大技巧
涉及传感器技术，隔离屏蔽技术，硬件指标考量，后端信号处理等视频教程及课件
NI PXI的优势探究
从PXI的产品技术（控制器、机箱、定时与同步、数据存储等）、设计验证、生产单元验证等方面，将NI PXI的优势娓娓道来，也让您对如何选择PXI有更好的了解。
敬请访问ni.com/solutions/zhs/,了解更多应用案例信息。

NI为工程师和科学家提供了图形化的系统工具，用于在能源、工业控制、生命科学和交通运输等行业内开发下一代控制与监测系统。运用NI可重配置I/O硬件和NI LabVIEW 系统设计软件，小型设计团队即可快速构建系统原型，并更快地部署嵌入式控制与监测系统。
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嵌入式系统发展趋势解析
资源包内容主要包括影响嵌入式系统市场的关键技术和开发方法；影响当今嵌入式系统设计团队的重大趋势、机遇、挑战；信息物理系统设计的挑战，及应对大模拟数据时代的到来。>>
NI嵌入式控制与监测平台手册
运用直观的图形化编程软件配合无缝集成的硬件，可快速实现嵌入式系统的设计、原型及发布,使设计效率提高10倍。>>
PAC（可编程自动化控制器）技术资源集锦
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通过OPC将NI LabVIEW连接至任意PLC
嵌入式控制与监测系统开发指南
NIDays嵌入式控制与监测专题资源包
NI CompactRIO开发者指南
机器状态监控(MCM)资源包
更多技术资源，请访问NI嵌入式控制与监测资源中心

PXI的高性能、低成本部署平台可用于多种领域，例如制造测试、军事和航空、机器监控、汽车和工业测试。

特别推荐：
PXI 101技术资源包
这一实用指南包含推荐的系统架构、真实的范例、测试工程基础知识以及最佳开发实践，了解用于自动化测试的PXI标准平台的基础知识，帮助您借助NI的软件和硬件开发软件定义的测试系统。>>
NI PXI的优势探究
从PXI的产品技术（控制器、机箱、定时与同步、数据存储等）、设计验证、生产单元验证等方面，将NI PXI的优势娓娓道来，也让您对如何选择PXI有更好的了解。>>
自动化测试趋势展望2014
五大趋势： 商业策略、系统架构、数据处理、软件和I/O。>>

敬请访问ni.com/automatedtest/zhs,了解更多NI 自动化测试 信息。

NI VirtualBench将最基本的仪器整合在一个设备中，并且适用于电脑与iPad。VirtualBench多功能一体式仪器简单易懂，操作便捷，为您连接台式仪器设备提供了更多可能与空间。 一个设备集成五种仪器
混合信号示波器、数字万用表、函数发生器、可编程直流电源、数字I/O

相关链接：
NI VirtualBench 多功能一体式仪器
什么是NI VirtualBench
VirtualBench说明书
实际了解VirtualBench

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NI Windows版VirtualBench应用

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LabVIEW 2014基于NI平台，提供了最佳的解决方案，让您轻松利用数据快速做出明智的决策。 使用最新版本的LabVIEW，让您随时随地快速采集、分析和可视化访问所有数据。
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立即体验LabVIEW 2014的相关应用领域
评估LabVIEW RIO架构用于嵌入式系统设计
使用NI LabVIEW 2014评估自动化测试附加工具
评估NI LabVIEW 2014用于控制设计和仿真
评估NI LabVIEW 2014用于工业监测和控制
评估NI LabVIEW 2014用于报告生成和数据存储
评估NI LabVIEW 2014用于软件验证和代码分析
评估NI LabVIEW 2014用于图像和高级信号处理算法

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NI提供业界领先性能的示波器/数字化仪；在灵活高效的PXI平台上，模块化的示波器/数字化仪将会具有更快的测试速度，更强的可自定义性，更优化的成本，更小的尺寸。
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点击NI PXI主页，了解更多PXI信息并获取技术资料。
点击NI 示波器/数字化仪主页，了解更多示波器/数字化仪信息并获取技术资料。

CompactRIO配备最新的Intel Atom处理器和Xilinx Kintex-7 FPGA，可提高生产效率和灵活性，适用于嵌入式监测和控制解决方案的设计、原型和部署阶段。
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全新的NI CompactDAQ控制器在小巧坚固的外壳内集成了处理器、可移动SD存储和具有高品质信号调理的测量以及数字、计数器和通信总线I/O。 您可以在降低系统成本和复杂度的同时提高精确度。
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